Beschreibung
Die Leistungspegelmesser OLP-85/-85P der Produktreihe SmartClass™ Fiber kombinieren die Gut/Schlecht-Faserendflächenprüfung mit der optischen Leistungspegelmessung in einem kompakten Messgerät. Mit einem Dynamikbereich von 100 dB bieten sich diese handlichen optischen Leistungspegelmesser in allen Glasfasernetzen als professionelle, vielseitige und kompakte Hilfsmittel zum Ermitteln des Leistungspegels und der Dämpfung an. Aufgrund seiner konsistent hohen Genauigkeit ist der OLP-85/-85P für Anwendungen geeignet, in denen niedrige bzw. sehr hohe Leistungspegel zu messen sind.
Vorteile
- Schnellerer, erfolgreicher und immer pünktlicher Abschluss der Aufträge gleich beim ersten Mal.
- Automatische Gut/Schlecht-Ergebnisausgabe bei der Prüfung der Faserendfläche mit dem Mikroskop P5000i (Option) und beim integrierten Patchcord-Mikroskop (PCM).
- Kompaktes, robustes, witterungsfestes Design.
Anwendungen
- Messung des optischen Leistungspegels (absolut und relativ).
- Messung der optischen Einfügedämpfung (IL) in Verbindung mit der optischen Lichtquelle OLS-3x oder OLS-8x von Viavi.
- Prüfung optischer Steckverbinder (IBYC).
- In-Service-Dämpfungsmessung (Option).
Leistungsmerkmale
- Batteriebetriebene optische Leistungspegelmesser für den Feldeinsatz mit einem in Schritten von 1 nm einstellbaren Messbereich von 800 bis 1700 nm und hoher Genauigkeit über einen Dynamikbereich von beeindruckenden 100 dB.
- 2,5 mm und 1,25 mm (Option) UPP-Adapter zur Unterstützung aller optischen Steckverbindertypen.
- 3,5 Zoll (8,89 cm) Farb-Touchscreen mit Stift.
- Individuelle Schwellenwerte für Leistungspegel-/Dämpfungsmessungen mit Gut/Schlecht-Auswertung.
- Integrierte Speicherung der Ergebnisse der Faserendflächenprüfung und der Tests mit Zeitstempel.
- Datenübertragung und Fernsteuerung über USB oder Ethernet.
- Tests mit automatischer Erkennung einer und mehrerer Wellenlängen in Verbindung mit Lichtquellen von Viavi.
SMART-Class
Die optischen Leistungsmesser OLP-85x sind die Weiterentwicklung der OLP-55 Serie. Zusätzlich zu den bereits bekannten Funktionen können das USB-Mikroskop P5000i sowie optional ein Patchkabelmikroskop angeschlossen bzw. integriert werden. Damit sind neben den herkömmlichen Messfunktionen eines optischen Leistungsmessers auch Qualitätskontrollen von LWL-Stirnflächen einschließlich der Gut-/Schlecht-Analysen möglich.
